PHL双折射测量系统WPA200
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产 地：更新时间：2021-01-21 11:05
品 牌：其他型 号：WPA-200
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产品介绍
PHL双折射测量系统WPA200
主要特点:
主要应用：
· 光学零件（镜片、薄膜、导光板）
· 透明成型品（车载透明零件、食用品容器）
· 透明树脂材料（PET PVA COP ACRYL PC PMMA APEL COC）
· 透明基板（玻璃、石英、蓝宝石、单结晶钻石）
· 有机材料（球晶、FishEve）
技术参数：
项次 | 项目 | 具体参数 |
1 | 输出项目 | 相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】 |
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2 | 测量波长 | 520nm、543nm、575nm |
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3 | 双折射测量范围 | 0-3500nm |
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4 | 测量***小分辨率 | 0.001nm |
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5 | 测量重复精度 | <1nm（西格玛） |
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6 | 视野尺寸 | 218x290mm-360×480mm（标准） |
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7 | 选配镜头视野 | 无选配 |
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8 | 选配功能 | 实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制，CD模式
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沪公网安备31011502016460号
