PHL应力双折射仪 PA-200
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产 地：更新时间：2021-01-21 10:50
品 牌：其他型 号：PA-200-L
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产品介绍
PHL应力双折射仪 PA-200
主要简介：
PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其专利技术的光子晶体偏光阵列片，独有的双折射算法设计制造，得到每片样品仅需几秒钟的测量能力，使其成为业内，特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。
主要特点：
操作简单，测量速度可以快到3秒。
视野范围内可***次测量，测量范围广。
更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。
具有多种分析功能和测量结果的比较。
维护简单，不含旋转光学滤片的机构。
高达2056x2464像素的偏振相机。
应用领域：
光学镜片、手机镜头
智能手机玻璃基板
碳化硅，蓝宝石等
技术参数：
| 项次 | 项目 | 具体参数 |
| 1 | 输出项目 | 相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】 |
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| 2 | 测量波长 | 520nm |
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| 3 | 双折射测量范围 | 0-130nm |
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| 4 | 测量***小分辨率 | 0.001nm |
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| 5 | 测量重复精度 | <1nm（西格玛） |
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| 6 | 视野尺寸 | 27x36mm到99x132mm（标准） |
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| 7 | 选配镜头视野 | 低至7x8.4（扩束镜头） |
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| 8 | 选配功能 | 实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制
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沪公网安备31011502016460号
