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IGBT高压大电流测试探针台

价  格:询价

产  地:更新时间:2021-05-10 13:18

品  牌:其他型  号:CL-6

状  态:正常点击量:2750

400-006-7520
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上海非利加实业有限公司

联 系 人: 上海非利加实业有限公司

电   话: 400-006-7520

传   真: 400-006-7520

配送方式: 上海自提或三方快递

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产品参数

CL系列总体规格                                                                              

 重量:

         CL-4 50KG左右(带显微镜)

         CL-6 60KG左右(带显微镜)

         CL-8 80KG左右(带显微镜)

尺寸:

         CL-4约 560mm宽*610mm长*550mm高(带显微镜)  

         CL-6 约600mm长*650mm宽*600mm高(带显微镜)

         CL-8 约640mm长*720mm宽*620mm高(带显微镜)

 

CL系列探针座台面规格

 探针台台面平整度:5µm。

 CL-4台面可以同时容纳8-10个探针座

  CL-6,CL-8分别可以同时容纳10-12个探针座

  CL-12台面可以同时容纳12个以上探针座


卡盘(载物台)规格  (可选配镀金卡盘,高温加热卡盘)

卡盘尺寸分为4" ,6",8"三种

卡盘平整度:5µm,采用空吸附方式吸附,带空吸附孔,中心孔径小可做到250微米(可根据客户需求定制孔径大小),小可以吸住尺寸为0.3mmX0.3mm,大能够吸住尺寸为4"X4"(6"X6",8"X8")。

卡盘可30度旋转,方便点测时样品在X-Y轴方向上调平。(根据客户需要可定制为360度旋转,旋转角度可微调,微调精度为0.1度,带角度锁定旋钮)。

卡盘X,Y轴调节旋钮可以控制卡盘做X-Y方向的移动,移动范围为4"X4"(6"X6",8"X8"),移动精度为20um,配合针座的移动可以保证wafer上的die都能够准确点测到。



产品介绍



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