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太阳能电池测试探针台

价  格:询价

产  地:更新时间:2021-05-13 13:40

品  牌:其他型  号:

状  态:正常点击量:2433

400-006-7520
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上海非利加实业有限公司

联 系 人: 上海非利加实业有限公司

电   话: 400-006-7520

传   真: 400-006-7520

配送方式: 上海自提或三方快递

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太阳能电池测试探针台
参数规格

规格如下:

chuck(卡盘)

*尺寸:4英寸,圆形(方形可选)

*材质:不绣钢(可升***镀金)

*旋转角度:0-360°可带角度锁定,精度0.1

*X-Y移动行程:4" x4"

*移动精度:10um(可升***为1um精度)

*平坦度:10um

*吸附孔:中心孔径*小可做到250微米,*小可以吸住尺寸为0.3mmX0.3mm,能够吸住尺寸为4"X4"


太阳能电池测试探针台配件

1、CB-40-T     

2.0um探针座

*X-Y-Z移动行程:12 x 12 x 12mm

*移动精度:微米

*移动方式:线性移动/无后座力移动

*丝杠精度:80 Thread / Inch

*I/O Pad 点测

*固定方式:磁力翻转,带磁性开关

*尺寸:52宽 x 96长 x 76mm

*重量:350 

2、CB-GZ-100

管状夹具

固定方式

通过内铜管固定探针

外铜管屏蔽杂讯干扰,内外铜管之间是绝缘层。可以选择后端连接普通线缆同轴线缆或者三轴线缆。

漏电精度

mA***:

接普通PVC线缆+香蕉头

10pA***:

接同轴线缆+BNC接头

100fA***:

接三轴线缆+Trixial接头(需配合屏蔽箱)

3、美***GGB探针

型号

针尖直径

针杆直径

针长

材质

根/盒

 

 

软针类:适用于集成电路内部线路点针


           

 

T-4-5

0.2 微米

0.51mm

51mm

硬钨材质

5

0.2微米直径的针须焊接于镍质针杆上

 

T-4-10

0.7 微米

0.51mm

51mm

硬钨材质

5

0.7 微米针须焊接于镍质针杆上 

 

 

 

硬针类:适用于集成电路电极点针


           

 

ST-20-0.5

1 微米

0.51mm

38mm

硬钨材质

10

ST-20-1.0

2 微米

0.51mm

38mm

硬钨材质   

10

ST-20-2.0

5 微米

0.51mm

38mm/20mm

硬钨/铍铜材质

10

ST-20-5.0

10 微米

0.51mm

38mm/20mm

硬钨/铍铜材质

10

ST-20-10

20 微米

0.51mm

38mm/20mm

硬钨/铍铜材质

10





 4、 名称:屏蔽箱/黑箱

  •屏蔽光及EMI各类干扰信号,使量测精度更高

  •尺寸可以定制

整体精度:1UM




5、防震桌


特点:隔振支撑采用超薄复合材料气囊、自定心准无摩擦球头摆杆和带附加扩散口的多小孔准层流阻尼技术,隔振性能良好。自动水平,自动充气,全部气动执行元件采用德***FEST0产品,静音空气压缩机气源、噪声低。

 

应用范围:适用于对振动要求高的场所。 如光电测量、全息成像、光栅制作等。轻松 调节,结构稳定可靠。

 

技术参数:

台面为三层夹心蜂窝状支撑结构,采用ICR17优质高导磁不锈钢

平台表面粗糙度0.5〜0.6 um

平面度0.02 ~ 0.05 mm/m2 

固有频率1.5 ~2 Hz

振幅小于1 um

重复定位精度±0.10 mm

工作压力0.2~0.6(Mpa)

 

具体尺寸可根据客户需求定制


6、真空泵

日东工器VP0125


规格:

电压:AC220V

流量:7L/min            

真空度:-60KPa

质量:0.7Kg

功能

提供真空动力源。

配合 CHUCK上的真空吸附孔来固定样品。

配合真空吸附型探针座,固定探针座。

特点

● 无油静音,特别适合实验室和洁净室使用。

● 7升/分钟,可24小时无间断运转。

 

 

 

 

 

探针台的使用方法

1、 将样品载入真空卡盘,开启真空阀门控制开关,使样品安全且牢固地吸附在卡盘上。

 

2、 使用卡盘X轴/Y轴控制旋钮移动卡盘平台,在显微镜低倍物镜聚焦下看清楚样品。

 

3、 使用卡盘X轴/Y轴控制旋钮移动卡盘平台将样品待测试点移动至显微镜下。

 

4、 显微镜切换为高倍率物镜,在大倍率下找到待测点,再微调显微镜聚焦和样品x-y,将影像调节清晰,带测点在显微镜视场中心。

 

5、 待测点位置确认好后,再调节探针座的位置,将探针装上后可眼观先将探针移到接近待测点的位置旁边,再使用探针座X-Y-Z三个微调旋钮,慢慢的将探针移至被测点,此时动作要小心且缓慢,以防动作过大误伤芯片,当探针针尖悬空于被测点上空时,可先用Y轴旋钮将探针退后少许,再使用Z轴旋钮进行下针,*后则使用X轴旋钮左右滑动,观察是否有少许划痕,证明是否已经接触。

 

6、 确保针尖和被测点接触良好后,则可以通过连接的测试设备开始测试。



产品参数


产品介绍



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