2991系列单晶材料X射线晶片定向仪
价 格：询价
产 地：日本更新时间：2020-10-22 08:54
品 牌：Rigaku型 号：2991系列
状 态：正常点击量：2707
400-006-7520
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半导体评价测定系列
·晶体、半导体材料的方位测定；
·精度高、使用寿命长；
·丰富多彩的附件。
产品参数
主要规格：
X射线发生器：30KV-5mA（max） Cu；
检测器：SC；
测角精度：±30s（2991F2） ±0.01°（2991G1）；
角度表示：数字表示（度、分、秒）；
入射狭缝：0.05 0.1 0.2mm 3种；
样品尺寸：max 6英寸（2991F2） max8英寸（2991G2）；
X射线防护罩：（option）。
产品介绍
应用范围：
晶片的偏差角测定；
半导体Wafer的方位测定；
晶体Ingod的切割面测定；
各种半导体材料的方位测定；
Orientation-Flat的测定。
沪公网安备31011502016460号
