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商品编号：80362

激光平面干涉仪接触式干涉仪数字立式干涉仪

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产地：更新时间：2021-01-19 09:16

品牌：型号：BW17-J4

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1、激光平面干涉仪的主要用途和特点
　　　BW17-J4型激光平面干涉仪是***种使用方便的光学精密计量仪器，主要用于精密测量光学平面度。仪器配有激光光源（波长为6328A）。对于干涉条纹可目视、测量读数、照相留存记录。工作时对防震要求***般。该仪器可应用于光学车间、实验室、计量室。如需配购相关的必要附件，可精密测量光学平板的微小楔角、光学材料折射率n的均匀性，光学镀膜面或金属块规表面的平面度，90o棱角的直角误差及角锥棱镜单角和综合误差。
2、激光平面干涉仪的工作原理
　　本仪器工作基于双光束等厚干涉原理。根据近代光学的研究结果，光兼有波动与微粒两重特性。光的干涉现象是光的波动性的特性。

3、仪器技术参数：
1、标准平面（A面），不镀膜。工作直径：D1=Φ146mm
　不平度小于0.02μm(λ/30)。

2、第二标准平面（B面），不镀膜。工作直径：D2=Φ140mm
　不平度小于0.03μm(λ/20)。

3、准直系统：孔径F/2.8，工作直径：D1=Φ146mm 焦距：f=400mm.

4、测微目镜：焦距f=16.7mm,放大倍数β=15X，视场角2w=40o
　成像物镜：I、D=4.5 П、D=7 Ш、D=10 f=16 f=23 f=37

5、干涉室尺寸：深260*宽300*190mm。

6、光源规格：激光ZN18（He-Ne）.

7、仪器的外形尺寸：长*宽*高 350*400*720mm。

8、仪器重量：100公斤。