德***Sentech光伏测量仪器MDPspot，灵活的自动扫描系统

 

具有成本效益的台式少子寿命测试仪MDPspot可用于表征晶片或面。它为少子寿命测量提供了***个测量点。

 

低成本桌面式寿命测量系统，用于手动操作表征不同制备阶段的各种不同硅样品。可选的手动操作Z轴用于厚度多达156毫米的样品。标准软件可输出可视化的测量结果。

 

MDPspot包括附加电阻率测量选项。只测量硅的电阻，对于没有高度调节可能性的晶片，或者对于砖。这两个选项中的***个必须是预先定义的。

 

优势

。用于单点测量少子寿命的台式装置，可测量多晶或单晶硅在不同制备阶段，从成长到后面器件。
。体积小，成本低，使用方便。附带***个基本软件，用于在小型电脑或笔记本上输出可视化的测量结果。
。适用于晶片上的砖，易于进行高度调整。

MDPspot flexible automatic scanning system

 

The cost - effective desktop low - child - life tester MDPspot can be used to characterize chips or surfaces.It provides a measuring point for measuring the life span of children.

 

Low cost desktop life measurement system for manual characterization of various silicon samples at different preparation stages.The optional manually operated z-axis is used for samples up to 156 mm thick.Standard software can output visual measurement results.

 

 

MDPspot includes additional resistivity measurement options.Only the electrical resistance of silicon is measured, either for wafers with no possibility of high regulation, or for bricks.One of the two options must be predefined.