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X射线应力检测仪; 残余奥氏体测定仪; 应力测定仪

价  格:询价

产  地:更新时间:2021-01-18 16:40

品  牌:型  号:TK--306

状  态:正常点击量:2244

400-006-7520
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上海非利加实业有限公司

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X射线残余应力分析仪


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主要技术参数:

 采用的瑞士DECTRIS公司的线阵MYTHEN2 R探测器。速度快,线性好

  ★测量方法:侧倾固定ψ法,摆动法,残奥测定,织构测定。
  定峰方法:交相关法,半高宽法,抛物线法,重心法。
  仪器精度:采用还原铁粉作为标准试样。 使用Cr靶Kα辐射,铁粉(211)晶面,衍射角2θ测定误差 在±0.015°以内;铁粉应力测量值应稳定达到在±10MPa以内。
  ★测角仪型式:θ-θ扫描ψ测角仪
  ★2θ扫描范围:120°~170°;
  2θ扫描***小步距:0.01°
  2θ扫描每步计数时间:0.1S~20S
  ψ角范围:0°~  65°
  ψ角摆动角度:0°~±6°
  X射线管电压:15~30kV,连续可调
  X射线管电流:3~10mA,连续可调
  X射线管靶材:Cr, Co, Cu, 其中Cr靶为常备,其余供选购。
  衍射几何:聚焦法
 准直管直径:提供产生直径分别为?1、? 1.5、? 3、? 4.5、? 6mm X光斑的准直管。
  测角仪重量:10 kg
  简装置总重量:45 kg
  供电要求:AC 220V±10%,1000W,50Hz


产品参数


产品介绍



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