原子力显微镜（Atomic force microscopy）是***种以物理学原理为基础，通过扫描探针与样品表面原子相互作用而成像的新型表面分析仪器。***般原子力显微镜利用探针对样品扫描，探针固定在对探针与样品表面作用力极敏感的微悬臂上。悬臂受力偏折会引起由激光源发出的激光束经悬臂反射后发生位移。检测器接受反射光，*后接受信号经过计算机系统采集、处理、形成样品表面形貌图像。 
产品特点：
计算机全数字化控制，操作简捷直观。 
步进马达自动进行针尖－－样品逼近，保证实验圆满成功。 
深度陡度测量，三维显示。 
纳米材料粗糙度测量、颗粒径度测量及分布统计。 
Ｘ、Ｙ二维样品移动平台，快速搜索样品区域． 
标准RS232串行接口,无需任何计算机卡 
样品观测范围从0.001um-20000um。 
扫描速度达40000点/秒 
可选配纳米刻蚀功能模块。 
技术指标: 
AFM探头 
样品尺寸：直径小等于30mm；厚度小等于15mm。 
XY扫描范围：标准6X6微米 
0.25nm 
0.03nm(云母定标) 
XY二维样品移动范围：５mm；精度0.5微米 
扫描器、针尖座智能识别 
44-283X连续变倍彩色CCD显微观察系统(选配) 
AFM电化学针尖块，液电池，液体轻敲式成像功能（选配） 
全金属屏蔽防震隔音箱/精密隔震平台（选购