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韩国科美K-MAC 薄膜测厚仪(涂层)ST2000-DLXn

价  格:询价

产  地:韩国更新时间:2020-10-23 10:52

品  牌:科美仪器型  号:ST2000-DLXn

状  态:正常点击量:2016

400-006-7520
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上海非利加实业有限公司

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配送方式: 上海自提或三方快递

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测量迅速,操作简单
非接触式,非破坏方式
***的重复性和再现性
用户易操作界面
每个影像打印和数据保存功能
可测量多达3层
可背面反射
 


产品参数

1、尺寸 :190 x 265 x 316 mm
2、重量 :12Kg
3、类型 :手动的
4、测量样本大小 :≤ 4"
5、测量方法 :非接触式
6、测量原理 :反射计
7、活动范围 :150 x 120mm(70 x 50mm 移动距离)
8、测量范围 :200?~ 35?(根据膜的类型)
9、光斑尺寸 :20? 典型值
10、测量速度 :1~2 sec./site
11、应用领域 :a)聚合体: PVA, PET, PP, PR ...
b)电解质: SiO2、TiO2、ITO、ZrO2、Si3N4
c)半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS...
12、选择 :参考样品(K-MAC or KRISS or NIST)
13、探头类型 :三目探头
14、nosepiece :Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt
15、照明类型 :12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer
 


产品介绍



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