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手提式X射线荧光测厚仪

价  格:询价

产  地:美国更新时间:2020-10-26 10:41

品  牌:Matrix Metrologies型  号:

状  态:正常点击量:2879

400-006-7520
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上海非利加实业有限公司

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配送方式: 上海自提或三方快递

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快速、准确、无损的手提式XRF分析仪,甚至可以挂在皮带上

美***Matrix Metrologies公司***新推出世界***创的手提式XRF测厚及成份分析仪-HMX系统。

HMX系统不仅具有操作简单、重量轻、电池供电的特点,而且具有实验室XRF的全部功能。

HMX系统特别适用于任何尺寸电镀件快速的厚度测量和成份分析。对于台式XRF很难甚至无法测量的大体积电镀件,而对于HMX系统来说,则是***理想的测量工具。

全便携、无需特殊设置、无需操作者有丰富经验,HMX系统胜任实验室测量以及现场测量,节约了运输被测部件的时间及费用。

只需***台HMX系统,就可以完成对来料的质量检测、基材的前处理检测、电镀过程中的随机检测以及电镀件的***终检测。

HMX系统也是唯***的***种能够同时测量小部件的手提式仪器。只需简单地“定位和测量”,仪器就会自动产生厚度的平均值。

技术参数重 量: 基体配置1.2kg;1.6kg带电池
尺 寸: 长度:30cm;高度:23cm;宽度:7.5cm
X射线发生器:银或钨靶微型X射线管;10-40kV,10-50µA
主要过滤器:5个过滤器
测量尺寸:接触样品表面测量时,7.75 mm
X射线探测管:Si-PIN高分辨率探测系统
温度范围:-10℃—50℃
电源: 可充电锂离子电池;含2块电池及充电器;AC转换器及多电池电源可选购。
参数调整:不锈钢316作为参考标准
主要特点HMX系统主要特点
无论体积多大的电镀件,HMX系统是理想的解决办法
对于QC、电镀线以及实验室分析等应用的现场测量
现场的样品分析
基材管理的合金分类以及合金确认
独特的“分组测量”模式,允许计算***组部件的平均厚度
 


产品参数


产品介绍



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