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比表面仪、比表面及孔结构分析仪
JW-K型氮吸附比表面积及孔径分布分析仪
价 格：询价
产 地：北京更新时间：2020-10-26 14:03
品 牌：精微高博型 号：JW-K型
状 态：正常点击量：2674
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产品参数
主机功能：
（1）吸（脱）附等温曲线测定
（2）孔径分布测定
（3）BET比表面测定，并可测定吸附常数C 值
（4）比表面快速测定（直接对比法）
测定范围：（1）孔径：2nm～200nm （2）比表面：0.1~3500㎡/g
测量原理：动态常压连续氮吸附法（国内首创）
气体： 高纯氮（99.99%）、高纯氦（99.99%）
气体流量：≤100mL/min
流量控制：稳压稳流系统，高精度流量传感器，数字显示，显示精度0.1%
测量压力：常压
氮气相对压力：调节范围 0.05-0.98
测量重复精度：≤±3%
测试时间：
（1）BET比表面：平均每个样品30分钟
（2）孔径分布：平均每个样品3～4小时
（3）数据采集：恒流电路，气体浓度传感器工作站，放大及滤除杂波系统，采集速度100次/秒。
产品介绍
JW-K是基于连续动态氮吸附法，经长期研究解决了动态法测试技术的瓶颈，实现了动态法中孔范围孔径分布的精确测定。该产品在***内尚属***创，极大推动了动态法技术的发展和完善。孔径分布测定原理是依据***际上公认的毛细凝聚理论。
沪公网安备31011502016460号
