Nano-ind 纳米压痕测试仪
价 格：询价
产 地：美国更新时间：2020-10-26 15:19
品 牌：Nanovea型 号：Nano-ind
状 态：正常点击量：1883
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| MEMS、半导体、光学部件、医学工程、触摸屏及涂层、汽车行业、新材料研发、建筑装潢涂层 |
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| 技术参数：载荷范围400mN (800mN, 1600mN可选)载荷分辨率0.03μN深度范围250μm 深度分辨率0.003nm 热飘逸<0.05nm/s ***大摩擦力 400mN Sinus模式分析(DMA)20Hz |
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| 其他信息：主要用于纳米尺度薄膜材料的硬度与杨氏模量测试，测试结果通过压入载荷大小与压入深度的曲线计算得出，无需通过显微镜观察压痕面积。 产品特点： 光学显微镜自动观察独特的热漂移控制技术可测量硬度、杨氏模量、压入深度-载荷的曲线图、弹塑性、蠕变性能等力学参数适时测量载荷大小采用独立的载荷加载系统与高分辨率的电容深度传感器快速的压电陶瓷驱动的载荷反馈系统双标准校正：熔融石英与蓝宝石也可以进行划痕测试纳米压痕测试模块可以与紧凑型工作台或者标准型工作台配用：符合ISO14577、ASTM E2546 |
沪公网安备31011502016460号
