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德国BMT WLI LA 白光干涉仪

价  格:询价

产  地:德国更新时间:2020-10-12 17:02

品  牌:BMT型  号:WLI LA

状  态:正常点击量:2627

400-006-7520
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上海非利加实业有限公司

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配送方式: 上海自提或三方快递

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·可测量粗糙或光滑表面

·测量结果不受被测物颜色和材料影响

·几秒钟完成测量

·测量面积:14 x 10 mm

· 测量范围:100 / 150 µm

·横向分辨率:30 µm

·垂向分辨率:³1 nm

·高数字孔径


产品参数

适用于较大面积平面的表面结构形状测量
测量头

·光源 LED

·测量范围 100/150µm

·垂直分辨率 ³ 1nm

·横向分辨率 30µm

·测量面积 13.9 x 10.4[mm]


产品介绍

WLI LA 白光干涉仪

 

本仪器比以往的显微镜可测面积大得多,使用者需在大测量面积和大数值孔径之间进行适当平衡。数值孔径决定了横向分辨率和可测量的微观/宏观表面倾斜程度。选择大约1.5 cm²的测量面积代表了***适宜的平衡点。干涉仪可测量大的测量面积使其用来主要进行平面度测量,而对于微观结构则会获取太多无效数据。本仪器采用数字式相机,用户可以选定动态范围8-14位的测量范围,和各种帮助操作者的辅助功能。

应用:

·用于表面形状、平面度和轮廓测量

特点:

·可测量粗糙或光滑表面

·测量结果不受被测物颜色和材料影响

·几秒钟完成测量

·测量面积:14 x 10 mm

· 测量范围:100 / 150 µm

·横向分辨率:30 µm

·垂向分辨率:³1 nm

·高数字孔径

优势:

·快速分析表面构造

·平面度评估

·自动数据采集和处理

·大的测量面积

技术参数:
适用于较大面积平面的表面结构形状测量
测量头

·光源 LED

·测量范围 100/150µm

·垂直分辨率 ³ 1nm

·横向分辨率 30µm

·测量面积 13.9 x 10.4[mm]



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