上海非利加实业有限公司Logo

热门词: 日本凯特HG-770快速水分测定仪日本凯特KH-50纸张水分测定仪德国普兰德塑料刻度移液管BR27614

现在位置首页 >行业动态 >Diamond & Related Materials:抛光盘材料对UV催化抛光单晶金刚石的影响研究

Diamond & Related Materials:抛光盘材料对UV催化抛光单晶金刚石的影响研究

2024-02-05 09:57:35

金刚石因其优异的物理,化学,光学和热学性能成为***种卓越的材料,具有超高硬度,卓越的化学稳定性,低摩擦系数,高电阻率。单晶金刚石(SCD)在光学,热学和半导体中被广泛使用。例如,拉曼激光光学,高温高压金刚石砧座,高速计算芯片。这些应用中,表面粗糙度和损伤层深度极其关键,对单晶金刚石器件性能有重大影响。因此,开发高效高质量金刚石抛光工艺极其重要。


化学机械抛光(CMP)是在半导体晶圆上获取无损伤,原子***光滑表面的***种高效手段。作为CMP工艺的关键组件之***,抛光盘的选取,对SCD表面的精密加工影响巨大。


 使用·OH(羟基自由基)配合磨粒来机械去除氧化后半导体材料是***种实现超光滑原子***表面的先进方法。UV(紫外线)催化反应在H2O2溶液中可产生·OH从而在半导体晶圆表面产生化学反应。在抛光过程中,单晶金刚石与抛光盘在给定载荷下相对运动。摩擦使得SCD表面微凸体优先被移除从而形成光滑表面。不同材料与金刚石之间的摩擦学研究对理解抛光机理至关重要。


UV催化反应的CMP能在高材料移除率同时获得原子***别表面质量。但是在此环境中如何选择抛光盘材料对SCD抛光尚需进***步研究。半导体晶圆常用的聚氨酯抛光垫对超硬SCD基本无效,目前金刚石抛光盘通常使用Fe基催化,陶瓷盘和玻璃盘。在该研究中,结合摩擦磨损和CMP实验,考察了不同抛光盘材料,如Fe,SiO2和Al2O3在UV催化环境里的摩擦行为和SCD的材料移除效果。这些发现为UV催化辅助化学机械抛光单晶金刚石提供指导。



 研究表明,使用Al2O3盘材料移除率可达713.5nm/h,而采用SiO2盘可以得到Ra仅为0.26nm的超光滑表面,因此可先利用Al2O3盘粗抛后SiO2盘精抛来同时实现单晶金刚石加工的高材料去除率和超高表面质量。成果发表在***新***期的Diamond & Related Materials期刊上,广东工业大学路***斌教授为该文的通讯作者,祝贺!


目前,随着宽禁带半导体产业迅猛发展,单晶金刚石的工业应用正快速成为热点,对其表面质量要求日益苛刻,该研究对如何高效加工SCD得到高质量超光滑表面提供了很好的思路。


由于金刚石硬度高,在摩擦和抛光时如何准确定量评价材料去除率十分关键(请参考专利:***种金刚石晶片抛光的材料去除率计算方法及系统,ZL 2021 1 0930698.7)。该方法思路巧妙,可拓展至其他难加工材料使用。


该文采用布鲁克白光干涉仪对抛光前后表面进行三维形貌测量,获得SCD表面轨迹和磨损区域的截面轮廓信息。材料去除率(MRR)可通过抛光前后预制划痕深度的变化量来定量计算,而白光干涉法的垂直方向高精度分辨(<0.1nm),准确计量和非接触式快速测量,保证了材料去除率的科学评定。


以下截取部分研究结果,全部研究请参考原文。



建基于抗体的病毒-二茂铁复合物

文中白光干涉测量数据均在布鲁克白光干涉仪平台(Bruker Contour GT-X)上获得,对应型号***新***代(Bruker ContourX-1000)图片如下:


(文章来源于仪器网)


(来源: